專注、創(chuàng)新、認真、專業(yè)

 貝拓科學攜旗下光學接觸角測量儀、白光干涉薄膜厚度測量儀、表面張力儀、顯微拉曼光譜儀、手持式拉曼光譜儀及納米粒度儀，在上海慕尼黑上海分析生化展正式亮相！

讓我們來看看上海慕尼黑上海分析生化展的現(xiàn)場吧！

展會期間，貝拓科學的產(chǎn)品也得到了行業(yè)人士的關注和認可！

貝拓接觸角測量儀DSA-X PLUS

應用：

●評價表面處理的效果

●粘合與涂層過程中粘附力與穩(wěn)定性研究

●塑料、玻璃、陶瓷、紙張等材料的潤濕性測試

●半導體芯片的質(zhì)量控制

●表面潔凈度測試

功能：

●動靜態(tài)接觸角測量

●固體表面自由能及其組成的計算

●懸滴法測量液體的表面/界面張力

●計算及分析粘附功

●粘合與涂層過程中粘附力與穩(wěn)定性研究

白光干涉測厚儀

白光干涉儀利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。

納米粒度儀

特點

1、 采用光子計數(shù)級的高精度光電倍增管。暗計數(shù)低、光纖耦合，高速，高穩(wěn)定性。

2、 采用集成的光子相關器。基于FPGA的光子相關器，集成雙通道光子計數(shù)器，確保光子無遺漏；1000個物理通道，提供充足的測量數(shù)據(jù)；小100ns采樣時間，確保低至1nm顆粒的測量；芯片內(nèi)模塊集成設計，保證高速、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)處理流程。

3、 準確的溫控系統(tǒng)?；?/span>PWM的高精度溫控系統(tǒng)，精度達到0.5°C，確保測量準確。

而貝拓科學的現(xiàn)場工作人員本著專業(yè)、認真和周到的服務，認真的解答的前來咨詢客戶的問題，使得我們的展位客戶絡繹不絕，成為展會上一到亮麗的風機線！

貝拓學科在此再次感謝新老客戶的信任與支持!